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文献综述
文 献 综 述1.课题研究背景和意义由于在数字通信等课程每一次实验中，每位学生都要使用到多种数字集成电路，在实验中，由于使用不当等多种原因，芯片有一定的损坏率。
为提高芯片的重复利用率，节省经费，便于学生做实验，设计实现一芯片测试系统，在学生进行实验前对芯片进行必要的测试以判断数字集成芯片的好坏，方便学生进行实验。
数字集成电路应用范围极其广泛，涉足的领域包括：通信、计算机、电子信息等，无论军事方面的应用还是民事方面的应用都发挥着令人瞩目的作用。
但集成电路存在易老化、易损坏的缺陷，集成电路能否正常工作日益成为用户们关注的热点。
现代社会的各种电子设备都不离开集成电路的应用，集成电路可以视为各大电子产品的核心。
但目前市面上的各种数字集成电路检测仪器普遍存在体积庞大、价格昂贵、自动化程度低的缺点。
购买一台离线检测仪可能需要数千甚至上万元，而购买在线检测仪或者国外进口检测仪则需要支付更加昂贵的价格，这些都极大阻碍了那些潜在使用者购买仪器进行使用。
因此设计一台成本低廉、体积小、自动化程度高、检测精准的数字集成电路芯片检测仪是非常有意义的。
2.研究现状由于芯片种类复杂，功能繁多，目前并没有统一的测试标准和测试方法。
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