毕业论文课题相关文献综述
文 献 综 述
一、线位置度公差的简介
在《GB/T 11822008》中第18.12.2给出了线位置度的公差带。图1示出了线对基准平面A 和B 在给定方向上的位置度公差的宽度等于公差值t、垂直于第1 基准平面A、对第2 基准平面B 相距理论正确尺寸L0和nL 的各组两平行平面空间公差带。图2的图样标注示例表明，六条刻线的提取（实际） 中心线必须分别限定在宽度等于0.1mm 垂直于第1 基准平面A、对第2 基准平面B 相距25 和n10 的各两平行平面的空间区域内。但是， 图1用两平行平面公差带来控制被测线是不恰当的。如果考虑到刻线的深度， 则应把被测要素理解为刻线（刻槽） 的中心面[3]。
图1 线对基准面位置度公差
图2 图样标注示例
图3和图4分别示出了线对基准平面A、B 和C 在两个相互垂直的方向上的位置度公差的宽度分别等于公差值t1和t2、垂直于第1 基准平面A、对第2 基准平面B 和第3 基准平面相距理论正确尺寸的两组平行平面空间公差带[5]。图5的图样标注示例表明， 8 孔的提取（实际） 线必须分别限定在宽度分别等于0.05mm 和0.2mm、垂直于第1 基准平面A、对第2 基准平面B 相距15 和n30、对第3 基准平面C 相距20 和30 的各两组平行平面的空间区域内。如将图3和图4两图合并， 可以更好地说明两对同一基准体系的关系。
图3 线对基准平面的平行平面空间公差带1
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